表面污染測(cè)量?jī)x用于直接測(cè)量的表面污染測(cè)量?jī)x要能夠探測(cè)低于規(guī)程限值水平的污染。測(cè)量時(shí)，探測(cè)器要盡可能靠近表面移動(dòng)，一旦探測(cè)到污染，探測(cè)器應(yīng)在該區(qū)域定位測(cè)量足夠時(shí)間，以確認(rèn)污染水平。

 

　　表面污染測(cè)量?jī)x對(duì)被檢測(cè)對(duì)象表面可以看得見的污物或氧化物在不能去除的情況下，要考慮對(duì)污染源效率的影響。在表面不是很平整的情況下，要評(píng)估檢測(cè)對(duì)象表面形狀對(duì)儀器效率的影響。

 

　　為了準(zhǔn)確測(cè)量總的表面活度，現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)儀器要經(jīng)過適當(dāng)刻度。刻度源應(yīng)選擇其發(fā)射的α或β輻射與現(xiàn)場(chǎng)污染物預(yù)期的輻射能量相似。有代表性的刻度源要用現(xiàn)場(chǎng)被評(píng)估的放射性材料制備。

 

　　表面污染測(cè)量的基本要求是及時(shí)發(fā)現(xiàn)是否有污染，確定污染點(diǎn)位和范圍，并給出污染區(qū)域內(nèi)污染核素的量值。常用的表面污染監(jiān)測(cè)儀器是便攜式的和車載式的，更先進(jìn)的表面污染監(jiān)測(cè)管理系統(tǒng)也已經(jīng)開發(fā)，用的是位置靈敏探測(cè)器，它不僅可以準(zhǔn)確給出污染點(diǎn)位，同時(shí)還可在顯示屏幕上三維顯示污染圖像和量值。表面污染監(jiān)測(cè)的對(duì)象主要是發(fā)射α、β或γ的核素，測(cè)量方式有α污染測(cè)量，β污染測(cè)量，α/β污染測(cè)量，α/γ污染測(cè)量。

 

　　表面污染可以用直接測(cè)量、掃描測(cè)量和間接測(cè)量確定。直接測(cè)量是用監(jiān)測(cè)儀器進(jìn)行，可以測(cè)量固定污染，也可測(cè)量松散污染；測(cè)量時(shí)，以適當(dāng)距離在待測(cè)對(duì)象的上方放置探測(cè)器，按預(yù)定時(shí)間間隔測(cè)量并記錄讀數(shù)。

 

　　對(duì)一些不能活動(dòng)的固體或者貯存有液體的表面，或者有高本底影響，或者測(cè)量?jī)x器不能靠近表面，直接測(cè)量是困難的，甚至是不可能的。此時(shí)只能采用間接測(cè)量方法。